一、產品簡介
T802光子相關納米粒度儀是采用動態光散射原理的納米粒度儀。其測量原理建立在分散在液體顆粒的布朗運動基礎上，顆粒越小，運動速度越快，顆粒越大，運動速度越慢。它采用HAMAMATSU光電倍增管和高速數字相關器作為重要器件，通過測試某一角度的散射光的變化并求出自相關函數（即擴散系數），根據Stokes－Einstein方程計算出顆粒粒徑及分布。它具有快速、高分辨率、重復及準確等特點，同時還具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態的優點，是納米顆粒粒度測試的選用產品。
二、主要性能特點
測試原理 該儀器采用動態光散射原理，其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態的特點，從而使測試結果真實和有效；
高靈敏度與信噪比 部件采用CR256數字相關器，它實時完成動態散射光強的采集和自相關函數運算，從而反映不同大小顆粒的動態光 散射信息，為測試結果的準確度奠定基礎；
穩定的光路系統 采用光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不但體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而使測試的穩定性好；
精(jing)度(du)高的(de)恒(heng)溫(wen)控制系統 采用半導(dao)(dao)體(ti)溫(wen)控技(ji)術，溫(wen)控精(jing)度(du)達(da)±0.2℃，使樣(yang)品在整個(ge)測(ce)試過程中處于恒(heng)溫(wen)狀態，避免溫(wen)度(du)變(bian)化而引起液體(ti)黏度(du)及布朗(lang)運(yun)動速度(du)變(bian)化導(dao)(dao)致的(de)測(ce)試偏差，保證測(ce)試結果準確(que)度(du)及穩(wen)定(ding)性(xing)
三、技術參數
| 規格型號 |
T802 |
| 執行標準 |
GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996
GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008 |
| 測試范圍 |
1-10000nm（與樣品有關） |
| 濃度范圍 |
0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關) |
| 準確度誤差 |
<1%（國家標準樣品D50值） |
| 重復性誤差 |
<1%（國家標準樣品D50值） |
| 激光光源 |
光纖半導體激光器，λ= 532nm， |
| 探測器 |
光電倍增管（PMT） |
| 散射角 |
90o |
| 樣品池體積 |
4mL |
| 溫控范圍 |
5-40 ℃（準確到0.1℃） |
| 測試速度 |
<5 Min |
| 體積 |
480mm*270mm*170mm |
| 重量 |
12Kg |
| 數字相關器主要參數 |
自相關通道：256 基線通道：4
小分辨時間：6ns 延遲時間：100ns-10ms（可調） 運算速度：162M/S |
：022-27546357，
：022-27526357，
：13388002188，
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