一、產品簡介
T2008是一款測試范圍覆蓋毫米、微米、亞微米、納米全量程的智能全自動激光粒度儀。采用了雙光束多頻譜探測系統和超微顆粒測試新技術，提高了儀器測試的精度和性能。
二、適用范圍
T2008全量程濕法激光粒度儀，廣泛應用于具有高要求的水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉體行業。
三、主要性能特點
測試原理：該款儀器在采用Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換技術以及無約束自由擬合數據處理技術的基礎上，柔和了頻譜放大技術，從而在有限的空間內輕而易舉的拓寬了測試范圍；
操作和校準全自動化：使用過程中，只要針對所測樣品的特性設置好測試條件后，分散、測試、沖洗等一系列操作過程便可自動完成，并得出準確的測試結果。另外，利用三維對中系統調節光電探測器，在避免人工調試所帶來的繁瑣的同時，對整個光路系統可時時校準，讓其準確對中，從而對測試結果的準確度和穩定性提供了有力的保障；
分散循環系統：在配有常規的超聲和攪拌分散裝置外，還針對寬分布樣品和比重較大的顆粒，配備了大流量循環泵，以避免因大顆粒丟失而導致測試結果不準確的現象。因而，該儀器在不同的粉體行業更具有廣泛適用性；
測試標準：采用多種微米、亞微米及納米級國家粒度標準物質，對儀器進行全量程校準標定，從而在其整個測量范圍之內得到真實、準確的測試結果。
四、T2008 激光粒度分析儀技術參數：
| 規格型號 |
T2008A |
T2008D |
| 執行標準 |
ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008；Q/0100JWN001-2013 |
| 測試范圍 |
0.01-2000μm |
0.01-1200μm |
| 探測器通道數 |
127 |
127 |
| 準確性誤差 |
<1%（國家標準樣品D50值） |
| 重復性誤差 |
<1%（國家標準樣品D50值） |
| 激光器參數 |
主激光源：He-Ne激光器 λ= 632.8nm, p>3.0mW
輔助激光源：半導體激光器，λ= 650nm；p>2mW |
| 分散方法 |
超聲 |
頻率：f=40KHz, 功率：p=50W |
| 攪拌 |
轉速：0-3000rpm轉速可調 |
| 循環 |
額定流量：30L/min 額定功率：70W |
| 樣品池 |
容量：1000mL |
| 操作模式 |
軟件操作 / 全自動操作模式可切換 |
| 自動對中系統 |
全自動對中系統 |
| 測試速度 |
<2min/次 |
| 體積 |
660mm*320mm*400mm |
| 重量 |
65Kg |
五、產品特點
1.采用全內置分散系統：使用大功率循環泵，對管路進行優化設計，使整體控制協調性達到高水平，避免了大顆粒的二次沉淀。
2.采用精密四項混合式步進電機組成光路自動對中系統，微動精度達微米級別，使儀器光路處于佳的狀態。
3.無約束自由擬合技術：無約束自由擬合技術，不受函數限制，可真實反映顆粒的分布狀態。
4.光路設計：采用會聚光傅立葉變換技術，使散射光不受透鏡孔徑限制；采用雙譜面光路設計，擴大測量范圍至2000微米；雙激光正交光路使用半導體輔助激光器測量側向散射45度至135度，將測量范圍進一步擴展
：022-27546357，
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：13388002188，
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