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粒度分析儀T2005

 

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產品(pin)簡(jian)介:

      T2005是(shi)我(wo)們精心為您打造的(de)一(yi)款濕法寬(kuan)分(fen)布智(zhi)能型粒度儀。采(cai)用好的(de)測試(shi)原理、計(ji)算(suan)模式以及(ji)準(zhun)確的(de)校(xiao)準(zhun)方式,使該款儀器具(ju)有測試(shi)結果(guo)準(zhun)確、測試(shi)重復性(xing)好、分(fen)辨率高等突出(chu)優(you)點,是(shi)寬(kuan)分(fen)布顆粒粒度測試(shi) 儀器。

 

適用(yong)范圍:

T2005廣泛應用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料(liao)、染料(liao)、顏料(liao)、填料(liao)、化工產品、催化劑(ji)、鉆(zhan)井泥漿、磨(mo)料(liao)、潤滑劑(ji)、煤粉(fen)、泥砂、粉(fen)塵、細胞、細菌、食品、添加劑(ji)、農(nong)藥、石墨、感(gan)光材料(liao)、燃(ran)料(liao)、墨汁(zhi)、金屬與非金屬粉(fen)末、碳酸鈣、高嶺(ling)土、水煤漿及其他(ta)粉(fen)狀(zhuang)物(wu)料(liao)。

 

 

儀器原理圖:

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產品(pin)特點和優勢:

顯著提高測試分辨率

采用匯聚光傅里葉變換技術和,不但克(ke)服了透鏡孔徑(jing)對(dui)散(san)射角的(de)限制,并能(neng)根(gen)據測(ce)試樣品的(de)粒度分布選(xuan)擇合適的(de)檔位進行密(mi)級測(ce)試,具有高的(de)分辨能(neng)力(li)和準確度。

 

量(liang)程擴(kuo)大(da)適合于分布較寬的樣品

2000系列(lie)相比,2005系(xi)列的(de)測試范圍顯著(zhu)擴大,適合樣品顆粒度小的(de)用戶,對亞微米顆粒的(de)測試效(xiao)果達(da)到(dao)國(guo)際水準。

 

科學合理(li)全內置分(fen)散(san)系統,保障樣品分(fen)散(san)

將(jiang)超聲(sheng)分散、機(ji)械(xie)攪拌、循環通道合(he)理(li)的集(ji)成于儀(yi)器內部(bu),讓顆粒(li)測試(shi)過(guo)程中的均(jun)勻分散和分布,有效(xiao)地避(bi)免了(le)外置分散系統因管路長而導致的顆粒(li)分布不均(jun)勻、大顆粒(li)沉積等現(xian)象, 讓測試(shi)結果準確(que)。此(ci)外,針(zhen)對貴重微(wei)量(liang)樣品可選配10ml微(wei)量(liang)樣品池,降低其測試(shi)成(cheng)本。

智能操作模式與全自動(dong)對中系統

具有智能化全自動操作模式,實(shi)現一鍵測試,即只要(yao)根據提(ti)示加入樣品,點擊(ji)自動測(ce)試,操作(zuo)過程(cheng)包括進(jin)水、分散(san)、循(xun)環、測試(shi)、清洗、數據(ju)記錄、數據(ju)分析、保(bao)存及打(da)印等自動完(wan)成,不 但減輕了測試(shi)人員的工作(zuo)量,而(er)且消除了人為因素的干擾誤差,進(jin)一步提高了測試(shi)的精度和結(jie)果(guo)的真實性。

 

采(cai)用精(jing)密四項混(hun)合(he)式步(bu)進電機組成光路自動對中系(xi)統,微動精(jing)度達(da)到微米(mi)級別,使儀器光路處于(yu)佳(jia)狀態,在消除手動對中光路所帶來的麻煩和(he)困難的同時 ,也讓(rang)測(ce)試結(jie)果準確(que)和(he)穩定。

 

校準方式

在(zai)整(zheng)個(ge)測(ce)試范圍內(nei)采用微(wei)米(mi)級(ji)(ji)、亞微(wei)米(mi)級(ji)(ji)以及納米(mi)級(ji)(ji)國家(jia)粒度標(biao)準物質(zhi)連續(xu)進(jin)行校(xiao)準,讓全量程內(nei)高的測(ce)試分辨(bian)率和準確度。

 

 

技術(shu)參數:

規(gui)格型號

T2005

執(zhi)行標準

ISO13320-1:1999GB/T19077.1-2008Q/JW001-2009

測試范(fan)圍(wei)

0.01-780μm

通道數

77

準(zhun)確(que)性誤差

<1%(國家(jia)標準樣品D50值)

重(zhong)復性誤差

<1%(國家標準(zhun)樣品D50值)

激光器參(can)數

主(zhu)激光源:He-Ne激光器  λ= 632.8nm,  p>2mW

輔助激光(guang)源(yuan):半導體激光(guang)器,λ= 650nmp>2mW

分散方法(fa)

超聲

頻率:f=40KHz,   功率:p=35W,   時間:≥1S

攪拌

轉速:0-300rpm轉速可調

循環

額(e)定流量:8L/min    額定功(gong)率(lv):10W

樣品池

容(rong)量:350mL

微量樣(yang)品(pin)池

容量(liang):10mL(可選)

操作模式

軟件(jian)操作 / 全自(zi)動操作模(mo)式可切換

自動對中系統(tong)

全自動對(dui)中系(xi)統

軟(ruan)件功能

分析模式

包括自由(you)分(fen)布、R-R分(fen)布(bu)和對(dui)數正態(tai)分(fen)布(bu)、按(an)目分(fen)級統(tong)計模(mo)式等,滿(man)足不同(tong)行業(ye)對(dui)被測樣品粒(li)度(du)統(tong)計方式的不同(tong)要(yao)求。

 

統計方式

 體(ti)積(ji)分布和數(shu)量(liang)分布,以滿足不(bu)(bu)同行業對于粒度分布的不(bu)(bu)同統(tong)計方式(shi)。

 

統(tong)計比(bi)較

可針對多條測試結(jie)果進行統計比較分(fen)析,可明顯對比不同(tong)批次樣品(pin)、加工前后樣品(pin)以及不同(tong)時間測試結(jie)果的差異,對工業原料(liao)質量控制具有很(hen)強的實際意(yi)義(yi)。

 

自定義分析(xi)

用戶自定(ding)義(yi)分(fen)析參(can)數,根據粒徑(jing)求(qiu)百分(fen)比(bi)、根據百分(fen)比(bi)求(qiu)粒徑(jing)或根據粒徑(jing)區間求(qiu)百分(fen)比(bi),以滿足(zu)不同行業對粒度測試的表(biao)征方式(shi)。

 

測(ce)試(shi)報告

測試(shi)報(bao)告可(ke)導出WordExcel、圖片(Bmp)和文本(Text)等多種形式(shi)的文(wen)檔,滿(man)足在任何場合下查看測(ce)試(shi)報(bao)告以及科研(yan)文(wen)章(zhang)中引用(yong)測(ce)試(shi)結果。

 

多語言支持

中英文語言(yan)界(jie)面支(zhi)持(chi),還可根據用戶要求嵌入(ru)其他語言(yan)界(jie)面。

 

智(zhi)能操作模式

 具有(you)智能(neng)操作模(mo)式,可以自動控制進(jin)水(shui)、分散(san)、測(ce)試等步驟,不但(dan)減(jian)輕測(ce)試人員的工作量,而且由于無人為因素干(gan)擾,測(ce)試結果的重(zhong)復性更(geng)好。

 

測試速(su)度(du)

<2min/

體積

855mm×360mm×444mm

重量

35Kg

 

 
 
   
 

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